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　　正如多年前的PID測試序列一樣，最終形成一個統(tǒng)一的IEC規(guī)范可能有好幾年時間。如何設(shè)計一種光照和溫度序列能夠更好地進行LeTID測試，將是今后數(shù)年都要持續(xù)討論和驗證的問題。

　　

　　1.LeTID定義

　　

　　LeTID是光伏組件功率衰減的一種形式，具有幾個獨特的特點：

　　

　　LeTID通常影響最新的電池技術(shù)，如PERC、PERT，不管是單晶或多晶，對傳統(tǒng)電池技術(shù)的功率衰減影響較小;

　　

　　目前實驗室研究發(fā)現(xiàn)組件LeTID衰減率能高達10%;

　　

　　當(dāng)電池發(fā)電達到高溫(超過50°C)時更容易發(fā)生;

　　

　　衰減最終穩(wěn)定，效率或能恢復(fù)，但恢復(fù)速度不同，恢復(fù)機理不清楚;

　　

　　2.LeTID測試的重要性

　　

　　LeTID常常發(fā)生在新型電池技術(shù)如PERC、PERT等，這些技術(shù)近年來正在成為行業(yè)主導(dǎo)技術(shù)。據(jù)統(tǒng)計，PERC電池現(xiàn)在占據(jù)了全球市場的40%以上，預(yù)計其市場份額還將大幅增長

　　

　　對于光伏電站投資者和所有者來說，任何不確定的因素都可能造成其投資收益損失，更何況現(xiàn)在全球光伏電站都在去補貼，留給光伏的收益空間已經(jīng)很窄。對于投資商、保險機構(gòu)、業(yè)主、采購方都需要一種能被承認的測試結(jié)果來規(guī)避LeTID的電池衰減風(fēng)險。

　　

　　這種風(fēng)險規(guī)避，和十年前對PID的擔(dān)心、對組件耐久性的擔(dān)心是一樣的。經(jīng)過多年的試錯和經(jīng)驗積累，行業(yè)對PID、組件及輔材耐久性已經(jīng)有很好的認識，如今對于新出現(xiàn)的LeTID，自然需要研究機構(gòu)權(quán)威的分析結(jié)果。

　　

　　作為分析結(jié)果的衰減率數(shù)據(jù)，對于精確的電站發(fā)電性能建模至關(guān)重要。如果沒有經(jīng)過充分驗證的第三方數(shù)據(jù)，工程師只能用最保守的估計來判斷LeTID對發(fā)電量的影響，這對于項目價值評估和可行性分析是極為不利的。

　　

　　3.戶外LeTID情況

　　

　　不少獨立研究都報道了戶外LeTID的存在，盡管公開的電站衰減數(shù)據(jù)有限，但是眾多研究表明，新型技術(shù)組件在炎熱氣候條件下衰減增加。高功率組件帶來更高的組件工作溫度，也能影響到LeTID的發(fā)生。目前已有報道稱：

　　

　　安裝在塞浦路斯的光伏組件三年內(nèi)的發(fā)電損失為7%;

　　

　　同樣的組件安裝在德國有2.5%的發(fā)電損失。

　　

　　4.LeTID與LID比較

　　

　　LeTID與大家熟知的LID有何區(qū)別?相同之處是兩者都是經(jīng)光輻照之后產(chǎn)生，但其衰減模式是完全不同的。

　　

　　5.LeTID測試方法

　　

　　關(guān)于LeTID的測試方法不少研究機構(gòu)都有報道，其難度在于如何設(shè)計一種模擬戶外環(huán)境條件，同時能確保組件衰減僅為LeTID引起，沒有導(dǎo)致組件其它的衰減機理產(chǎn)生。行業(yè)通常接受相對溫和的測試條件，比如僅用高溫避免潮濕，以免產(chǎn)生PID。大家普遍采用的方法包括以下測試步驟：

　　

　　1. 初期檢查：初期檢查不僅是了解送測組件的外觀，還要詳細了解組件的材料清單、工藝過程，甚至是電池的制造過程。最主要是處于研究者的考慮，在了解LeTID的形成機理前，研究機構(gòu)除了檢測，還需要了解制程。

　　

　　2. 光浸潤：和其它組件測試一樣，用于LeTID測試的組件首先需要經(jīng)過光浸潤，消除LID的影響，這和IEC 61215的測試要求一樣。經(jīng)過LID后，測試組件的起始性能。

　　

　　3. LeTID測試：完成LID測試后，將組件置于75°C的環(huán)境試驗箱中，并用直流電源通以弱電流162小時，電流值參照組件的最大功率點的測試值。

　　

　　4. 性能檢測：完成步驟3后檢查外觀、測試IV性能、濕漏電、EL，并分析功率損失是否與LeTID相關(guān)。

　　

　　5. 重復(fù)步驟3兩次以上，總試驗時間達到486小時(相當(dāng)于塞浦路斯戶外1.6年實證)。每162小時測試一次性能。

　　

　　6.LeTID的測試結(jié)果示例

　　

　　LeTID測試過程模擬得不好，會導(dǎo)致其它衰減的發(fā)生，因而衰減率更高。在前述測試條件下，一些機構(gòu)的測試結(jié)果示例如下：

　　

　　圖：LeTID測試前后的組件功率衰減

　　

　　(右圖中電池片發(fā)黑說明了經(jīng)過測試后的電池片變化)

　　

　　7.關(guān)于LeTID的更多工作

　　

　　不少公司對LeTID已經(jīng)開展深入的研究，新南威爾士大學(xué)(Universityof New South Wales,簡稱 UNSW) 2018年11月發(fā)布的一份研究報告顯示,阿特斯基于黑硅和多晶PERC技術(shù)的P4組件的開路電壓(Voc)在166小時的輻照、75°C測試條件下,只有0.3%的衰減。這個測試結(jié)果佐證了阿特斯P4組件優(yōu)異的抗LeTID衰減性能。據(jù)悉阿特斯已經(jīng)累計交付超過2.6吉瓦抗LeTID高效PERC組件。

　　

　　但光伏行業(yè)對于一個新衰減機理的認識、新測試序列的定義和新標準的起草非常慎重，一方面是因為這個行業(yè)很新，沒有太多的應(yīng)用數(shù)據(jù)和實踐，另一方面這個行業(yè)需要更多的數(shù)據(jù)來解釋。通常在標準草案出來之前，不少第三方測試機構(gòu)已經(jīng)在開展業(yè)務(wù)并積累經(jīng)驗。目前關(guān)于LeTID的測試方法和標準草案已經(jīng)在準備，TÜV南德、CSA、CQC、天合、阿特斯以及一些電池供應(yīng)商都已經(jīng)在參與。